The Infona portal uses cookies, i.e. strings of text saved by a browser on the user's device. The portal can access those files and use them to remember the user's data, such as their chosen settings (screen view, interface language, etc.), or their login data. By using the Infona portal the user accepts automatic saving and using this information for portal operation purposes. More information on the subject can be found in the Privacy Policy and Terms of Service. By closing this window the user confirms that they have read the information on cookie usage, and they accept the privacy policy and the way cookies are used by the portal. You can change the cookie settings in your browser.
Praca dotyczy pomiarów wartości parametrów modelu przejściowej impedancji termicznej Z(t) tranzystora VDMOS. W pracy przedstawiono metodę pomiaru Z(t) bazującą na krzywej chłodzenia. sposób estymacji parametrów modelu Z(t) oraz wyniki pomiarów zależności Z(t) od mocy wydzielanej w badanym elemencie a także wielkości radiatora oraz orientacji przestrzennej badanego tranzystora.
We współczesnych rozwiązaniach układów impulsowego przetwarzania energii elektrycznej istotne znaczenie mają scalone układy sterujące. Układy takie zawierają zwykle nie tylko szereg bloków funkcjonalnych niezbędnych do sterowania przetwornic, ale także rozbudowane funkcje zabezpieczeń. Wśród wielu grup sterowników scalonych na uwagę zasługują układy integrujące w strukturze zarówno bloki sterownika,...
W artykule przedstawiono podstawowe techniki dokumentowania arkuszy kalkulacyjnych, zalecane przez autora oraz profesjonalnych audytorów. zaprezentowano narzedzia wspomagajace prace dokumentacyjne , ich ograniczenia oraz wskazano kierunki, w których powinien nastąpić rozwój tych narzędzi.
Praca dotyczy badania rozkładu temperatury w polowych tranzystorach mocy przy wykorzystaniu metod pirometrycznych. Przedstawiono wyniki pomiarów rozkładu temperatury na powierzchni tranzystorów IRF840 umieszczonych w róznych obudowach, na różnych radiatorach, przy różnej orientacji przestrzennej badanego elementu i różnych wartościach mocy wydzielanej w badanym tranzystorze. Zamieszczono również czasowe...
Praca dotyczy modelowania własciwości układow cyfrowych CMOS. W pracy przedstawiono postać wbudowanego w programie SPICE modelu podstawowej bramki CMOS oraz przedyskutowano ograniczenia tego modelu. Nastęnie zaproponowano postać autorskiego modelu inwertera CMOS oraz sposób implementacji tego modelu w programie SPICE. Poprawność modelu zweryfikowano eksperymentalnie, a rozważania teoretyczne zilustrowano...
Set the date range to filter the displayed results. You can set a starting date, ending date or both. You can enter the dates manually or choose them from the calendar.